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リニアスケール・リニアエンコーダー

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液晶による位置制御用精密測長器は世界初の技術です
新着情報

■2008年6月16日付NEW
弊社 本社工場を新設・移転しました。


■2008年3月11日付
「科学技術振興機構(JST)のサイエンスポータルサイト」に掲載されました。


■2008年2月13日〜15日
「nano tech 2008 国際ナノテクノロジ総合展・技術会議」出展いたしました。

■2008年1月16日〜18日
「第2回レーザ&オプティクス2008」出展いたしました。

■2007年12月25日付
 日経産業新聞(16面)に掲載されました。

■2007年10月31日〜11月2日
「中小企業総合展(東京)」出展いたしました。

■2007年10月17日〜19日

「全日本科学機器展in大阪2007」出展いたしまた。

■2007年9月12日〜14日
「イノベーション・ジャパン2007」出展いたしました。

■2007年7月25日〜28日
「第18回マイクロマシン/MEMS展」出展いたしました。

■2007年2月21日〜23日
「nano tech 2007 国際ナノテクノロジ総合展・技術会議」出展いたしました。

■2006年11月29日〜12月1日
「中小企業総合展(東京)」出展いたしました。

■2006年11月20日
日経BP社から取材を受け、「先端技術事業化サイト」に記事が掲載されました。

■2006年8月26日
びわ湖放送『滋賀経済NOW!』で紹介されました。放映映像はこちら。

■2006年9月13〜15日
「イノベーションジャパン2006(東京)」出展いたしました。

■2006年3月
滋賀県産業支援プラザ発行「うちでのこづち」に掲載されました。
■2005年3月
中小企業の創造的事業活動の促進に関する臨時措置法(創造法)に基づく認定を受けました。
製品情報
リニアスケール・リニアエンコーダー
ES25-1 デビュー
分解能 ±0.5nm
再現性精度 ±20nm
測定長 25mm,120mm
動作速度 10mm/sec,50mm/sec
ES25-1 イメージ
■
ES25-1の優れた特徴
  • 高分解能(±0.5nm)・高精度(±20nm 再現性精度)の測長が可能。
  • 正・逆動作切替時に測長誤差が発生しない。
  • チャタリングによる測長誤差が発生しない。
  • 取付に特別な技術を必要としない(取付治具によるカンタン取付)。
  • 周囲温度による影響が少ない。
  • ノイズ等の外乱に強い。
詳細
 
 
蛍光灯型LED照明はこちらから
 
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